Tecniche di analisi strutturale
La diffrazione mediante raggi X (XRD)
È una tecnica non-distruttiva utilizzata per la determinazione della struttura dei materiali, generalmente inorganici, cristallini e allo stato solido. Il diffrattometro a raggi X di CNR-IOM è progettato per consentire analisi di diffrazione di raggi X su una vasta gamma di materiali, dalle polveri micrometriche ai film sottili e/o etero-strutture nano-ingegnerizzate, mediante l’utilizzo di appositi moduli che ne ottimizzano la configurazione sperimentale.
Grazie alla luce di sincrotrone è inoltre possibile:
- analizzare le strutture dei materiali di tipo cristallino raccogliendo informazioni rispetto alla loro formazione, crescita, struttura microscopica, aspetto macroscopico e proprietà fisiche
- individuare le fasi di materiali amorfi
- studiare la struttura di proteine e molecole
ALCUNI ESEMPI DI APPLICAZIONI
Le strumentazioni
AREA Science Park offre un insieme di infrastrutture e competenze d’eccellenza a disposizione delle aziende interessate allo sviluppo di progetti di ricerca e innovazione industriale nel campo dei materiali avanzati. Le strumentazioni sono presenti nei Grandi Laboratori di Elettra Sincrotrone Trieste, Fermi Elettra e l’Istituto Officina dei Materiali del CNR, all’interno del campus di AREA Science Park.