Scuola di microscopia elettronica: grande interesse per i microscopi di ultima generazione

23/10/2015 - Alta Tecnologia
25 partecipanti da tutta Italia fra ricercatori, tecnici e studenti

25 partecipanti da tutta Italia hanno animato l’edizione 2015 della scuola di microscopia elettronica a scansione su materiali nanostrutturati – SEM, organizzata dalla Società Italiana Scienze Microscopiche (SISM), dall’Istituto Officina dei Materiali (IOM) del CNR e sostenuta da AREA Science Park nell’ambito del progetto Open Lab.

Nel corso di un’intensa 3 giorni ricercatori, tecnici e studenti – provenienti sia dal mondo accademico, sia dall’industria – hanno perfezionato le loro competenze nell’utilizzo della microscopia elettronica a scansione e delle tecniche analitiche correlate per lo studio e la caratterizzazione di materiali nanostrutturati.

Di particolare interesse le sessioni dimostrative che hanno permesso ai partecipanti di fare pratica sui microscopi SEM e FIB-SEM dello IOM messi a disposizione per l’evento, nonché l’exhibition area allestita nella hall dell’edificio con strumentazione esposta da numerose aziende produttrici, con particolare riferimento alle ultime generazioni di SEM da tavolo.

Il prossimo appuntamento con la Scuola è previsto nel 2017.

 

Il Direttore della scuola, la Dr. Regina Ciancio, Ricercatore del CNR-IOM e membro del Direttivo della SISM Credits: Pasquale Orgiani

Il Direttore della scuola, la Dr. Regina Ciancio, Ricercatore del CNR-IOM e membro del Direttivo della SISM