Tecniche di Imaging

Microscopia elettronica a scansione (SEM)

È una delle tecniche di imaging maggiormente utilizzate per l’analisi delle proprietà morfologiche e microstrutturali dei materiali con risoluzione laterale sub-micrometrica. Per la sua grande versatilità e per la possibilità di effettuare analisi in maniera non distruttiva, ricopre un campo di applicazione estremamente ampio spaziando dalle nanotecnologie e sviluppo di materiali nano-strutturati, alla failure analysis e al controllo di processi nelle attività industriali.

Microscopia a forza atomica (AFM)

È una tecnica di imaging a scansione di sonda (una sorta di profilometro) in grado di visualizzare immagini topografiche della superficie del campione con risoluzioni nettamente migliori di quelle ottenibili con i microscopi ottici. È uno strumento altamente versatile, utilizzabile per una grande varietà di applicazioni: metallurgia, tecnologia dei semiconduttori, studio delle superfici, materiali magnetici, scienza dei polimeri, materiali compositi, ottica, chimica, biologia e medicina.

Grazie alla luce di sincrotrone è inoltre possibile:

  • ottenere immagini bidimensionali o tridimensionali della morfologia del campione anche di materiali che sono opachi alla luce visibile
  • effettuare la caratterizzazione morfologica con sensibilità alle proprietà chimiche di numerosi materiali per lo studio delle loro proprietà, delle reazioni chimiche e dei processi di trasporto di massa che avvengono sulla loro superficie


ALCUNI ESEMPI DI APPLICAZIONI

 

 

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Pagina aggiornata il: 9 ottobre 2015