Tecniche di analisi strutturale

La diffrazione mediante raggi X (XRD)

È una tecnica non-distruttiva utilizzata per la determinazione della struttura dei materiali, generalmente inorganici, cristallini e allo stato solido. Il diffrattometro a raggi X di CNR-IOM è progettato per consentire analisi di diffrazione di raggi X su una vasta gamma di materiali, dalle polveri micrometriche ai film sottili e/o etero-strutture nano-ingegnerizzate, mediante l’utilizzo di appositi moduli che ne ottimizzano la configurazione sperimentale.

Grazie alla luce di sincrotrone è inoltre possibile:

  • analizzare le strutture dei materiali di tipo cristallino raccogliendo informazioni rispetto alla loro formazione, crescita, struttura microscopica, aspetto macroscopico e proprietà fisiche
  • individuare le fasi di materiali amorfi
  • studiare la struttura di proteine e molecole


ALCUNI ESEMPI DI APPLICAZIONI

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Pagina aggiornata il: 19 giugno 2015